信頼性試験(環境試験)受託

概要

JIS／JEDEC／MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。
※試験に使用する基板、ソケット等の検査治具に関しましても弊社にて手配可能です。

各種信頼性試験受託サービス
・恒温恒湿試験/恒温恒湿バイアス試験
・冷熱衝撃試験
・液槽冷熱衝撃試験
・パワーデバイスのHAST試験

信頼性試験とは

製品が製造段階や輸送および市場でのストレスに対して、十分な耐性を満たせるかを確認するとともに、信頼性の維持向上を目的に実施するものになります。

分野

・半導体パッケージ
・実装基板
・電子部品/電子機器製品
・樹脂材料　太陽電池　LED/OLED
・ディスプレイ/タッチパネル

恒温恒湿試験/ 恒温恒湿バイアス試験

恒温恒湿試験は、試料が恒温/恒湿条件下に晒された場合の耐湿性の評価等で実施されます。恒温恒湿バイアス試験はイオンマイグレーション評価等のために実施されます。恒温恒湿試験器は温湿度を制御する事が出来る為、温度特性の確認・吸湿性の確認の為に実施したり、梱包材の密封性の評価等を行う場合も有ります。
【試験事例】
・高温逆バイアス試験 / 高温高湿バイアス試験 （ パワーデバイス/実装品の信頼性評価 ）
・高密度基板のイオンマイグレーション評価
・電子機器製品/電子部品の温湿度評価
・温湿度による寿命試験/耐久性試験
・気候変化シュミレーションとしての温湿度サイクル評価試験
・樹脂部材の耐湿/吸湿評価試験
・輸送環境シュミレーションとしての耐温湿度評価試験
・梱包材の保存試験

冷熱衝撃試験

冷熱衝撃試験は、試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、主に電子部品の接合評価に実施されます。
冷熱衝撃の高温・低温の熱によるストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生し、それによる繰り返し応力によってもストレスが加えられます。また、電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても冷熱衝撃試験が行われます。
【試験事例】
・実装接合部（ハンダバンプ等）の接合評価
・プリント基板/実装基板の信頼性評価
・電子部品の寿命評価
・LED/OLEDの信頼性
・寿命評価
・樹脂部材の信頼性評価

液槽冷熱衝撃試験

気槽冷熱衝撃試験は空気を媒体として温度ストレスを与えるのに対して、液槽冷熱衝撃試験は液体を媒体として温度ストレスを与えます。 液槽冷熱衝撃試験は温度変化の速度がかなり速いため、気槽の冷熱衝撃試験や市場で発生する故障と異なる故障モードの不良が発生する場合がありますので試験結果の判断には注意が必要です。
液槽冷熱衝撃試験は弱い箇所を探す場合或いは試験期間の短縮には有効な試験方法です。
【液槽冷熱衝撃試験 構造】
・高温及び低温の2槽構成
・ステンレス製試料カゴ内に固定設置
・試料カゴが低温槽/高温槽間を交互に移動
・液槽冷熱衝撃試験
使用液フッ素系不活性液体
ガルデンDO3(アウジモント製)
使用温度範囲：-40℃～+180℃
ガルデンDO2-TS(アウジモント製)
使用温度範囲：-65℃～+150℃
※液槽冷熱試験における使用液のガルデンは、不燃性で低温から高温までの使用温度範囲が広く、電気絶縁性に優れています。

パワーデバイスのHAST試験

MOSFET･IGBT等のパワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1,000Vの印加が可能です｡漏れ電流のモニタリングを行い､デバイスの劣化状況の推移が確認出来ます｡
【特徴】
・最大1,000Vを印加してパワーデバイスの不飽和蒸気
　加圧試験が可能です。
・高温高湿下での通電により金属配線の腐食やマイグ
　レーション等の評価が可能です｡
・試験中にモニタリングを行うので､リアルタイムで試
　料の劣化状況が把握出来ます｡
【仕様･サービス内容】
・試験電圧 最大DC1000Vまで印加可能
　(正極コモン･保護抵抗110kΩ)
・試験数量 最大30個(正極側)
・対応モジュール TO-247､TO-220 等
　(その他のパッケージは要相談：ソケット調達可)
・測定内容
　漏れ電流のモニタリング
・試験装置仕様
　温度制御範囲 105.0℃～142.9℃
　湿度制御範囲 75%RH～100%RH
　圧力範囲0.020～0.196MPa（ゲージ圧)