次世代の新機能を搭載した自動化AFM＜Park Systems社製 装置FX40＞のデモ測定会を開催します。
▽概要
最新の研究用AFM装置でサンプル測定を行ってみませんか？
6月18日(火)に東京都市大学、20日(木)には関東学院大学に最新AFM「FX40」を設置します。
「AFMを導入したいがどれがいいかわからない…」
「ご自身のサンプルがAFM測定できるか試してみたい」
「最新の機能を搭載したAFMを見てみたい」・・・等々
Park Systems社のアプリケーション担当者が装置や測定の具体的な方法について丁寧に説明致します。
参加無料の御案内になりますので、ぜひこの機会に奮ってご参加ください。
原子力顕微鏡(AFM)についての詳細は
こちら
(商品ページ)
を御覧下さい
▼ 開催場所
①６/１８(火) 10:00-15:45 東京都市大学 世田谷キャンパス 10号館1階
〒158-8557 東京都 世田谷区 玉堤 1-28-1
※東急大井町線「尾山台（東京都市大学 世田谷キャンパス前）」駅下車 徒歩12分
②６/２０(木) 10:00-15:45 関東学院大学 横浜＆金沢八景キャンパス 12号館 材料・表面工学研究所
〒236-8501 横浜市金沢区六浦東1-50-1
※京浜急行線「金沢八景」駅下車後、京急バス「関東学院循環」乗車約5分または徒歩15分
▽ 開催内容
午前：講義／午後：オープンデモ測定(★)
| 10:00ー10:45 | Opening, Welcome Speech (本社アプリケーションサイエンティスト Jake KIM) |
| 10:45ー11:30 |
FX40について（パーク・システムズ・ジャパン アプリケーションスペシャリスト 後藤 千絵） |
| 11:30ー12:20 | お昼休憩 |
| 12:30ー15:45 | オープンデモ測定 |
| 15:45ー17:00 |
フリータイム(質疑応答、装置見学など） |
★オープンデモ測定
＊御来場者様のサンプルを現地で実際に測定致します
オープン デモ形式で実施を致しますので公開可能なサンプルで、デモ測定を希望される方は、
登録フォームよりご回答をお願いいたします。
＊サンプルを提供いただいた場合、後日デモレポートをお送りいたします。
＊受付は先着順とさせていただき、別途リクエストフォームをお送りいたします。
＊なお複数名でご参加の場合、代表者様のみ「可」とご回答ください
▼ 申込方法
こちらの登録ページ内「
参加申し込みボタン
」よりお申込みください。
