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A F M (原子間力顕微鏡 )
AFM 原子間力顕微鏡。AFMパークシステムズ。研究用・生産ライン用・バイオ、ケミカル用に幅広くラインナップ。完全非接触。マイクロレンズアレイ計測。生産ライン用ウエハ搬送機構。自動欠陥検査と表面粗さ計測用最先端AFM。自動欠陥検査機能を備えた原子間力プロファイラー。
JEDEC規格トレイ
半導体の部品用、チップレット(Chiplet)用トレイ・ICトレイ・出荷用トレイ・工程内用トレイとして、JEDECトレイを設計から一貫して対応致します。高耐熱・低発塵などクリーン要求にも材料から提案。初期投資不要の規格トレイ(一般品)も数多く取り揃えております。