商品ラインアップLINEUP

大電流・狭ピッチ検査治具

検査治具用のピンにタングステン等のワイヤープローブを用いた検査治具で、車載電子部品(IGBT、MOSFET、ダイオード)、パワーデバイス チップ（Si、SiC 、GaN)等の大電流検査やプローブカード検査、４端子(ケルビン)測定等に最適です。
最小ピッチ40μmでワイヤープローブを並べることが可能。

製品検査治具

実製品基板そのものをテストツールとして使用可能にするの半導体評価用の試験治具です。スマートフォンやデジタルカメラ、カーナビゲーションシステムなどのシステムLSI、メモリーなど動作速度の速いデバイスの動作チェックが可能です。半導体の実環境における動作確認や不具合解析を簡易化させます。

ICテストソケット（切削）

半導体製造の後工程の最終検査に使用されるテストソケット。
５G・IoT・車載・イメージセンサーなど進化する電子デバイスの開発や評価の際に1個から短納期で製作致します。高周波・大電流・ファインピッチなど新しいニーズにも豊富なアプリケーションで対応致します。

ICテストソケット・電子デバイス検査治具

半導体・電子部品のテスト・検査に使用されるコンタクタ。「どこに相談すれば良いか分からない」その段階からご相談ください。
電子デバイス検査の“困った”に、カスタム対応力が強みです。
汎用のIC用はもちろん、AI、自動運転などの進化する電子デバイスに合わせてカスタムのＩＣソケット、コンタクタを作成致します。汎用の枠を利用してコンタクト部のみを作る事で低価格、短納期対応も可能。
高周波／大電流／高温環境対応のICソケット・検査治具・実機評価治具を1個の試作から中量産対応まで。切削加工での製作も致します。