商品ラインアップLINEUP

大電流・狭ピッチ検査治具

タングステン等のワイヤープローブを用いた検査治具で、
車載電子部品(IGBT、MOSFET、ダイオード)、パワーデバイス用チップ（Si、SiC 、GaN)等の
大電流検査やプローブカード検査、４端子(ケルビン)測定等に最適です。
最小ピッチ４０μmでワイヤープローブを並べることが可能。

製品検査治具

実製品基板そのものをテストツールとして使用可能にするの半導体評価用の試験治具です。スマートフォンやデジタルカメラ、カーナビゲーションシステムなどのシステムLSI、メモリーなど動作速度の速いデバイスの動作チェックが可能です。半導体の実環境における動作確認や不具合解析を簡易化させます。

ICテストソケット（切削）

半導体製造の後工程の最終検査に使用されるテストソケット。
５G・IoT・車載・イメージセンサーなど進化する電子デバイスの開発や評価の際に1個から短納期で製作致します。高周波・大電流・ファインピッチなど新しいニーズにも豊富なアプリケーションで対応致します。

ICテストソケット（金型）

半導体製造の後工程の最終検査に使用されるテストソケット。
汎用ICソケットはもちろん、５G、ＩｏＴ、カーエレクトロニクスなど進化する電子デバイスに合わせてカスタムソケットを作成致します。汎枠を利用してコンタクト部のみを作る事で低価格、短納期対応します。