環境試験基板(バーンインボード・HAST基板・PCT基板)

基板のアートワーク設計、製造、ICソケット及び部品手配から実装までトータルでサポート致します。175℃の高温バーンインからHASTやPCT用基板の製作も致します。
通信デバイス評価用のインピーダンス整合基板や各種デバイスのバーンイン装置のカスタム製作の実績もございます。
ヤマトマテリアルでは、詳細な図面が無くてもお打合せが可能です。設計～実装・納品までの一貫対応に加え、各工程のスポット対応にもお対えします。
また、熱シミュレーションやICソケット、環境試験機を取りまとめご案内も可能でございます。

ＪＥＤＥＣ規格トレイ

半導体の部品用、チップレット(Chiplet)用トレイ・ICトレイ・出荷用トレイ・工程内用トレイとして、JEDECトレイを設計から一貫して対応致します。高耐熱・低発塵などクリーン要求にも材料から提案。初期投資不要の規格トレイ(一般品)も数多く取り揃えております。AI半導体など100×100ｍｍを超える大きな半導体用のメガトレイ　外形サイズ537.6×258ｍｍ（面積比でJEDECサイズ約3倍の大きさ）のご提案も可能です。

特殊トレイ（金属代替・金属一体型）

・強度を確保しつつ金属より軽い製品の製作が可能
・金属と樹脂を一体化
・耐熱２４０℃のハイブリットトレイ
・お客様のご要望に合わせた材質、形状を提案

ICテストソケット・電子デバイス検査治具（切削加工）

半導体製造の後工程の最終検査に使用されるテストソケット。
AI・IoT・モビリティ・データセンターなど、幅広い分野で進化する半導体・電子デバイスの開発や評価に対応。テストソケットを1個から短納期で製作いたします。
半導体・電子部品のテスト・検査に使用されるコンタクタ。「どこに相談すれば良いか分からない」その段階からご相談ください。
カスタム対応力が強みです。
　汎用のIC用はもちろん、高周波／大電流／高温環境対応のICソケット・検査治具・実機評価治具を1個から切削加工で製作致します。
微細ピッチ、大型超多ピンパッケージにも対応いたします。

ICテストソケット・電子デバイス検査治具

半導体・電子部品のテスト・検査に使用されるコンタクタ。「どこに相談すれば良いか分からない」その段階からご相談ください。
電子デバイス検査の“困った”に、カスタム対応力が強みです。
汎用のIC用はもちろん、AI、自動運転などの進化する電子デバイスに合わせてカスタムのＩＣソケット、コンタクタを作成致します。汎用の枠を利用してコンタクト部のみを作る事で低価格、短納期対応も可能。
高周波／大電流／高温環境対応のICソケット・検査治具・実機評価治具を1個の試作から中量産対応まで。切削加工での製作も致します。